安賽斯光彈系數(shù)測試儀(ANA6000P-V)是應用偏振光干涉原理對應力作用下能產生人工雙折射材料做成的力學構件模型進行實驗應力測試的儀器，簡稱光彈儀。應用它可以測試 SiC晶圓、手機膜、顯示屏、石英玻璃等器件內部的應力雙折射/殘余應力，以圖像形式直觀觀察被測件的應力分布和應力集中情況。
 

　　主要技術參數(shù)：
 

　　1.測試面積(即光源尺寸)
 

　　標準尺寸為300 mm×300mm，其它尺寸可以定制，最大600mm×500mm；
 

　　2.相機參數(shù)
 

　　2248*2048原始分辨率，輸出4幅1224*1024的偏振圖像。幀率36或79。
 

　　3.應力雙折射量程
 

　　基本型: 量程為工作波長的1/4(以紅光為例，量程即157.5nm)；
 

　　增強型：2296nm。需要采用藍、綠兩種顏色的光源進行測試，并進行相位解包裹處理；
 

　　4.測試分辨率與精度
 

　　以 0.8mm 厚的鈣鈉玻璃為例：應力測試的分辨率為 0.2MPa：應力測試的精度：1.0MPa。
 

　　應力雙折射的測試分辨率：0.1nm, 精度：1.0nm；
 

　　產品特色：
 

　　與傳統(tǒng)/常規(guī)的光彈儀相比，本光彈儀具有如下特點：
 

　　1.結構簡單
 

　　主要部件包括：偏振光源、傾斜平臺(用于晶體試件測試)、濾光片轉輪、像素偏振相機、高配筆記本電腦(內存 16G 以上)及處理軟件，不含任何可旋轉的光學偏振器件。
 

　　2.操作簡單，可以實現(xiàn)快速甚至實時測試
 

　　只需一次拍照即可同時獲取試件的相位差場和主應力方向場，避免了傳統(tǒng)方法在定量測試時的復雜操作，且在平面應力的條件下可以分離出各應力分量；
 

　　3. 靈敏度高且不受環(huán)境光的干擾
 

　　測試靈敏度是傳統(tǒng)光彈法/設備的兩倍(物理靈敏度)，且無論相位差多小，都可以用最大的灰度梯度圖像表示(顯示靈敏度高)；由于采用不同偏振圖像之間的相減運算，使得測試幾乎不受環(huán)境光的干擾。
 

　　4.多種測試波長可選并快速切換
 

　　切換方式包括RGB 三色 LED 光源(中心波長分別為：625nm、525nm 和 465nm)的切換以白光光源下不同的窄帶濾光片的輪換。
 

　　5.可以根據(jù)客戶要求定制產品
 

　　在某些特殊情況下，客戶需要用自己的相機和光源，我們可以根據(jù)需要對產品進行定制，滿足客戶的需要。
 

對徑壓縮圓盤的相位差場分布
 

 

　　#FormatImgID_6#
 

　　U型塊壓彎組合實驗：
 

　　#FormatImgID_7#
 

　　光彈性方法直觀,能直接顯示應力集中區(qū)域，并準確給出應力集中部分的量值；它不但可以得到便捷應力而且能夠求的結構的內部應力。特別是這一方法不受形狀和載荷的限制，可以對工程復雜結構進行應力分析。